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400-7075-800簡要描述:高低溫老化房定做適用于航空航天產品、信息電子儀器儀表、電工、電子產品、材料、各種工業(yè)產品或電子元氣件在高低溫恒溫或濕熱恒濕的環(huán)境下、檢驗其各性能項指標。
高低溫老化房定做適用于航空航天產品、信息電子儀器儀表、電工、電子產品、材料、各種工業(yè)產品或電子元氣件在高低溫恒溫或濕熱恒濕的環(huán)境下、檢驗其各性能項指標。
高低溫老化房定做技術參數:
一、可選擇操作的溫度范圍 : A:0℃; B:-20℃; C:-40℃; D:-70℃~+80℃/100℃(可選擇任意低溫或者高溫做試驗室的溫度范圍)
二、濕度范圍 : 20~98%R.H或 30~95%R.H(相對溫濕度圖請參考報價方案)
三、波動度 : ≤±0.5℃;步入式恒溫恒濕試驗室均勻≤±2℃
四、試驗室控制精度 :溫度±0.2℃、濕度±2%R.H;
五、試驗室溫度解析精度:0.01℃、試驗室濕度解析精度:0.1%R.H
六、試驗室溫度均勻度:±2℃;濕度均勻度:≤±3%R.H(+2、-3%RH)
七、溫度波動度:±0.5℃ (空載時)
八、安全保護裝置:超溫保護,防干燒保護,無熔絲開關,缺水保護,液位保護,保險絲,壓縮機超壓、過熱、過電流保護等眾保護裝置24小時保證設備的安全及穩(wěn)定性工作。
九、滿足與執(zhí)行標準如下:
GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術條件;
GB/T11158-2006高溫試驗箱技術條件;
GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術條件;
GB/T2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫;GB/T2423.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫;
GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗;GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db 交變濕熱(12h+12h循環(huán))
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